JUNIOR-PAM 作为基础型调制叶绿素荧光仪，涵盖了 PAM 的所有基本功能，同样能够测量荧光诱导曲线和快速光曲线，同时也满足与光合仪 GFS-3000 的联用。
MONITORING-PAM 为多通道调制叶绿素荧光仪，适用于同时对多个样品进行连续监测。测量样品可以是高等植物或藻类，每套设备可同时连接 7 个测量头，用于荧光诱导曲线和快速光曲线的测量，以及淬灭分析和暗驰豫分析等。
美国 Phenotype Screening 公司的植物根系X-光扫描成像分析系统 RootViz FS 是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片。 这套系统是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大 Regent WinRHIZO 根系分析系统）后非常激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后，借助扫描仪进行分析，...
MULTI-COLOR-PAM 具有 6 种不同波段的激发光作为测量光、光化光、饱和脉冲、单周转饱和闪光与多周转饱和闪光。除了能够测量常规荧光参数外，MULTI-COLOR-PAM 还可以测量 PS II 光合单位的连接性参数（p和J），速率常数（Tau）和两种不同类型 PS II（Type 1 和Type 2）的光学截面积（Sigma(II)λ）等参数。
便携式激光叶面积仪CI-202利用先进的激光技术精确、方便的进行原位非破坏性测量叶片面积（或叶片状物体的面积），特别是小型叶子或无叶柄的叶片。 适合于农业、园艺、林业和栽培等科研领域进行叶片的形状和外观参数的研究。
CI-203激光叶面积将激光扫描器、数据处理器、显示器、功能键和电池整合在一个手持单元内，重量仅仅910g。可以进行非离体叶面积测量,进行一次扫描测定,可以同时获得叶片的面积、长度、宽度、周长以及叶片的长宽比和形状因子。 广泛应用在农学、作物育种学、生态学、栽培学、种质资源等领域。
